RAM bruciadati in certi notebook Toshiba

RAM bruciadati in certi notebook Toshiba

Il costruttore richiama in fabbrica le memorie RAM di alcuni suoi modelli di portatile che, in certe circostanze, potrebbero rendere il sistema instabile. Ecco come verificare se il proprio notebook è afflitto dal problema
Il costruttore richiama in fabbrica le memorie RAM di alcuni suoi modelli di portatile che, in certe circostanze, potrebbero rendere il sistema instabile. Ecco come verificare se il proprio notebook è afflitto dal problema


Milano – Toshiba ha annunciato di aver identificato un potenziale problema riguardante alcuni moduli di memoria utilizzati all’interno di alcuni suoi modelli di notebook venduti in tutto il mondo.

“In alcune condizioni e solo se utilizzati in combinazione con altri componenti”, ha spiegato il produttore in un comunicato divulgato ieri, “i moduli interessati (dal difetto) possono causare schermi blu, saltuari blocchi del PC o corruzione dei dati in memoria”.

Toshiba ha sottolineato che “la possibilità di insorgenza di tali eventi è molto bassa”, e ha elencato fra i modelli di notebook potenzialmente difettosi i seguenti: TECRA S1, 9100, M1, M2; Satellite 2400, 1110, Pro M10, M30; Portege R100, M200.

L’azienda non ha fornito una stima del numero di macchine contenenti le RAM potenzialmente difettose, limitandosi a dire che “non tutti i PC in elenco sono equipaggiati con componenti difettosi”.

Toshiba ha incoraggiato i propri clienti a scaricare una utility (richiedibile anche su CD presso i centri di assistenza) con cui poter effettuare il test della memoria: nel caso venisse rilevato un modulo malfunzionante, il software fornisce tutte le informazioni necessarie per ricevere gratuitamente il componente sostitutivo. Il programma di richiamo rimarrà valido fino al 30 aprile 2005.

Toshiba ha detto che le memorie difettose sono state fabbricate da “produttori terzi”. Un caso simile si è verificato di recente anche con alcuni notebook di HP, che contenevano memorie difettose prodotte da una società esterna.

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Pubblicato il
2 nov 2004
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